FABRICATION OF SPECIMENS BY ION-BEAM SPUTTERING FOR HIGH-RESOLUTION EM

被引：0

作者：

HOJOU, K

ADACHI, K

KIMURA, T

KANAYA, K

机构：

[1] KOGAKUIN UNIV,DEPT ELECTR ENGN,TOKYO,JAPAN

[2] UNIV TOKYO,INST ENG RES,TOKYO 113,JAPAN

[3] SNOW BRAND MILK PROD CO LTD,INST TECH RES,DIV RES,KAWAGOE,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1977年 / 26卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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