MEASUREMENT OF TOP BOTTOM EFFECT IN SCANNING-TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY OF THICK AMORPHOUS SPECIMENS

被引：49

作者：

GENTSCH, P ^{[1
]}

GILDE, H ^{[1
]}

REIMER, L ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV MUNSTER,PHYS INST,ELEKTR MIKROSKOP ABT,MUNSTER,WEST GERMANY

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1974年 / 100卷 / JAN期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1974.tb03915.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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