ELECTRON-BEAM MICROANALYSIS OF CARBONS .1. X-RAY INTENSITIES OF C-K(ALPHA) LINE

被引：0

作者：

WEISWEILER, W

机构：

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关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

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页数：1

共 23 条

[1] REEVALUATION OF X-RAY ATOMIC ENERGY LEVELS [J].

BEARDEN, JA ;

BURR, AF .

[2] A MONTE CARLO CALCULATION ON SCATTERING OF ELECTRONS IN COPPER [J].

BISHOP, HE .

PROCEEDINGS OF THE PHYSICAL SOCIETY OF LONDON, 1965, 85 (547P) :855-&

[3]

BISHOP HE, 1966, THESIS U CAMBRIDGE

CASTAING, R ;

DESCAMPS, J .

JOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM, 1955, 16 (04) :304-317

FITZER, E ;

SCHAEFER, W ;

YAMADA, S .

[6]

GREEN M, 1963, P 3 INT C XRAY OPT M, P361

[7]

HEINRICH KFJ, 1966, ELECTRON MICROPROBE, P841

[8]

HENKE BL, 1957, J APPL PHYS, V28, P1

[9]

MOREAU G, 1963, COMPTE RENDU ESSAI

[10]

OGIER WT, 1964, APPL PHYS LETT, V5, P7