MICROINDENTATION FOR FRACTURE AND STRESS-CORROSION CRACKING STUDIES IN SINGLE-CRYSTAL SILICON

被引：0

作者：

WONG, B ^{[1
]}

HOLBROOK, RJ ^{[1
]}

机构：

[1] HUGHES AIRCRAFT CO,EL SEGUNDO,CA 90245

来源：

JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY | 1987年 / 134卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O646 [电化学、电解、磁化学];

学科分类号：

081704 ;

摘要：

引用

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页码：C126 / C126

页数：1

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