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ATOMIC FORCE MICROSCOPY
被引：0
作者：
FUJII, T
YAMADA, H
NAKAYAMA, K
机构：
[1] NIKON INC,TOKYO,TOKYO 140,JAPAN
[2] NATL RES LAB METEROL,TSUKUBA 305,JAPAN
来源：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
|
1990年
/
39卷
/
03期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
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页码：197 / 197
页数：1
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