共 1 条
- [1] IKEDA S, 1980, J ELECTRON MICROSC, V29, P209
SEM CONTRAST FROM ELECTRIC-FIELD WITHIN SURFACE-LAYER OF DIELECTRICS
被引：0
作者：
IKEDA, S
UCHIKAWA, Y
机构：
[1] MEIJO UNIV,FAC SCI TECHNOL,NAGOYA,AICHI 468,JAPAN
[2] NAGOYA UNIV,FAC ENGN,NAGOYA,AICHI 464,JAPAN
来源：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
|
1981年
/
30卷
/
03期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
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