AUTOMATIC TESTING OF COMPLEX INTEGRATED-CIRCUITS

被引：0

作者：

LIVINGSTONE, AW

机构：

来源：

POST OFFICE ELECTRICAL ENGINEERS JOURNAL | 1977年 / 70卷 / OCT期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页码：161 / 167

页数：7

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共 2 条

[1]

HUSTON RE, 1973, P INT TEST C LOS AL, P27

[2] LIFE TESTS OF SSI INTEGRATED-CIRCUITS [J].

KEMENY, AP .

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY, 1974, 13 (02) :119-&