首页
学术期刊
论文检测
AIGC检测
热点
更多
数据
ELECTROSTATIC PROBE AND ELECTRONIC CIRCUIT FOR LOW-TEMPERATURE PLASMA MEASUREMENTS
被引:10
作者
:
MUSAL, HM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MUSAL, HM
机构
:
来源
:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
|
1970年
/ 41卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.1659270
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
收藏
页码:2605 / &
相关论文
共 4 条
[1]
[Anonymous], 1965, ELECT PROBES
[2]
PULSED LANGMUIR PROBE MEASUREMENTS IN A HELIUM AFTERGLOW PLASMA
BLUE, E
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Lockheed Palo Alto Research Laboratory, Palo Alto
BLUE, E
STANKO, JE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Lockheed Palo Alto Research Laboratory, Palo Alto
STANKO, JE
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1969,
40
(10)
: 4061
-
&
[3]
BOND RH, 1965, 25 CAL I TECHN TECHN
[4]
DOUBLE-PROBE METHOD FOR UNSTABLE PLASMAS
CHEN, FF
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CHEN, FF
[J].
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1964,
35
(09)
: 1208
-
&
←
1
→
共 4 条
[1]
[Anonymous], 1965, ELECT PROBES
[2]
PULSED LANGMUIR PROBE MEASUREMENTS IN A HELIUM AFTERGLOW PLASMA
BLUE, E
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Lockheed Palo Alto Research Laboratory, Palo Alto
BLUE, E
STANKO, JE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Lockheed Palo Alto Research Laboratory, Palo Alto
STANKO, JE
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1969,
40
(10)
: 4061
-
&
[3]
BOND RH, 1965, 25 CAL I TECHN TECHN
[4]
DOUBLE-PROBE METHOD FOR UNSTABLE PLASMAS
CHEN, FF
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CHEN, FF
[J].
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1964,
35
(09)
: 1208
-
&
←
1
→