PREDICTING TRANSIENT UPSET IN GATE ARRAYS

被引：5
作者：
WOODRUFF, RL
NELSON, DA
SCHERR, S
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1987年 / 34卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1109/TNS.1987.4337492
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：1426 / 1430
页数：5
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共 5 条
  • [1] ACKERMANN M, 1986, IEEE T NUCL SCI, V33
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