LOW-FREQUENCY NOISE IN PERFECT INSULATED DIODE WITH SHALLOW TRAPS UNDER CRITICAL CONDITION

被引:0
作者
SHARMA, YK [1 ]
机构
[1] BANARAS HINDU UNIV,INST TECHNOL,PHYS SECT,VARANASI 221005,INDIA
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
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页数:3
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