THE NEW MULTIPURPOSE 2-AXIS DIFFRACTOMETER FOR SYNCHROTRON X-RAYS AT DORIS

被引：21
作者：
BONSE, U [1 ]
FISCHER, K [1 ]
机构：
[1] UNIV SAARLANDES,FACHRICHTUNG KRISTALLOG,D-6600 SAARBRUCKEN 11,FED REP GER
来源：
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH | 1981年 / 190卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1016/0029-554X(81)90960-5
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
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页码：593 / 603
页数：11
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