A NEW METHOD FOR OPTIMAL-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY OF RADIATION-SENSITIVE SPECIMENS

被引：92
作者：
FUJIYOSHI, Y
KOBAYASHI, T
ISHIZUKA, K
UYEDA, N
ISHIDA, Y
HARADA, Y
机构：
来源：
ULTRAMICROSCOPY | 1980年 / 5卷 / 04期
关键词：
D O I：
10.1016/S0304-3991(80)80004-0
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
页码：459 / 468
页数：10
相关论文
共 11 条
[1]  
ADACHI K, 1968, Journal of Electron Microscopy, V17, P280
[2]   MOLECULAR IMAGES OF HYDROCARBON C22H12-ANTHANTHRENE [J].
FRYER, JR .
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A, 1978, 34 (JUL) :603-607
[3]  
HARADA Y, 1979, J ELECTRON MICROSC, V28, P227
[4]  
HERRMANN KH, 1976, 6TH P EUR C EL MICR, P342
[5]   MINIMAL BEAM EXPOSURE WITH A FIELD-EMISSION SOURCE [J].
OHTSUKI, M ;
ZEITLER, E .
ULTRAMICROSCOPY, 1975, 1 (02) :163-165
[6]  
UNWIN PNT, 1975, J MOL BIOL, V94, P525
[7]   CRYSTAL-STRUCTURE OF AG-TCNQ [J].
UYEDA, N ;
KOBAYASHI, T ;
ISHIZUKA, K ;
FUJIYOSHI, Y .
NATURE, 1980, 285 (5760) :95-97
[8]  
UYEDA N, 1978, CHEM SCRIPTA, V14, P47
[9]  
UYEDA N, 1970, MICROSC ELECTRON, V1, P443
[10]  
WADE RH, 1977, OPTIK, V49, P81
12