共 2 条
- [1] IOFFE AF, 1957, PHYSICS SEMICONDUCTO
- [2] MARKMAN MA, 1971, ZAVODSK LAB, V37, P1211
RAPID MEASUREMENT OF TEMPERATURE DEPENDENCE OF THERMAL EMF AND ELECTRICAL CONDUCTIVITY
被引：0
作者：
MARKMAN, MA
SIMANOVSKII, LM
KHANIN, MA
机构：
来源：
INDUSTRIAL LABORATORY
|
1971年
/
37卷
/
10期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要：
引用
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页数：1
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