COMPARATIVE STUDY ON X-RAY TOPOGRAPHIC TECHNIQUE FOR DETECTION OF CRYSTAL DEFECTS

被引：0

作者：

WATTENBE.VU

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D O I：

暂无

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

页码：169 / &

共 6 条

[1]

Barrett C.S, 1945, AIME T, V161, P15

Berg, W .

[3]

BONSE UK, 1967, ADVANCES XRAY ANALYS, V10, P1

[4]

KOHRA K, 1962, DIRECT OBSERVATION I, P461

[5]

RENNINGER M, 1965, Z ANGEW PHYSIK, V19, P20

WATTENBERG, U .