NEW METHOD TO MEASURE FIGURE-OF-MERIT OF MICROWAVE DETECTOR DIODES

被引：0

作者：

COHNSFET.S ^{[1
]}

BUCKMASTER, HA ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALGARY, PHYS DEPT, 2920 24 AVE NW, CALGARY, ALBERTA, CANADA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TIM.1974.4314229

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：102 / 103

页数：2

共 6 条

[1]

BENDAT JS, 1971, RANDOM DATA ANALYSIS

BUCKMASTER, HA ;

RATHIE, RS .

[3]

BUCKMASTER HA, 1973, 17 P C AMPERE, P276

HASLETT, JW ;

DENNIS, LP ;

TROFIMENKOFF, FN ;

STREETS, RB .

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, 1970, 58 (11) :1874-+

[5] HETERODYNE SPECTRAL NOISE ANALYZER [J].

VANBURIK, HC ;

WESSELS, ACE .

[6]

VANDERZIEL A, 1967, J APPL PHYS, V38, P3449