CYTOSKELETONS INVESTIGATED BY HIGH-RESOLUTION SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY

被引：0

作者：

MITSUSHIMA, A ^{[1
]}

TANAKA, K ^{[1
]}

机构：

[1] TOTTORI UNIV,SCH MED,DEPT ANAT,YONAGO,TOTTORI 683,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1991年 / 40卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页数：1

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