A QUALITATIVE ELLIPSOMETRIC-ELECTROCHEMICAL APPROACH TO THE STUDY OF FILM GROWTH UNDER ORGANIC COATINGS

被引：30
作者：
RITTER, JJ
KRUGER, J
机构：
来源：
SURFACE SCIENCE | 1980年 / 96卷 / 1-3期
关键词：
D O I：
10.1016/0039-6028(80)90314-3
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];
学科分类号：
070304 ; 081704 ;
摘要：
引用
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页码：364 / 374
页数：11
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AMBROSE JR, 1971, CORROSION, V28, P30
[2]   QUALITATIVE USE OF ELLIPSOMETRY TO STUDY LOCALIZED CORROSION PROCESSES [J].
KRUGER, J ;
AMBROSE, JR .
SURFACE SCIENCE, 1976, 56 (01) :394-412
[3]  
LEIDHEISER H, 1979, CORROSION CONTROL CO
[4]  
MCCRACKIN FL, 1969, NBS479 TECH NOT
[5]  
MELMED AJ, UNPUBLISHED
[6]   NEW RESONANT ELLIPSOMETRIC TECHNIQUE FOR CHARACTERIZING THE INTERFACE BETWEEN GAAS AND ITS PLASMA-GROWN OXIDE [J].
THEETEN, JB ;
ASPNES, DE ;
CHANG, RPH .
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1978, 49 (12) :6097-6102
1