SEM CHARACTERIZATION OF ELECTRICAL-PROPERTIES OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS

被引：0

作者：

KIMERLING, LC ^{[1
]}

机构：

[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974

来源：

ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY | 1977年 / 174卷 / SEP期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

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