VARIATIONS IN STOICHIOMETRY IN HG1-XCDXTE USING ELECTROLYTE ELECTROREFLECTANCE - TOPOGRAPHICAL INVESTIGATION

被引：8

作者：

VANIER, PE ^{[1
]}

POLLAK, FH ^{[1
]}

RACCAH, PM ^{[1
]}

机构：

[1] YESHIVA UNIV,BELFER GRAD SCH SCI,DEPT PHYS,NEW YORK,NY 10033

来源：

APPLIED OPTICS | 1977年 / 16卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.16.002858

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：2858 / 2860

页数：3