MEASUREMENT OF GRAIN-BOUNDARY THICKNESS USING ELECTRON-DIFFRACTION TECHNIQUES

被引：0

作者：

CARTER, CB ^{[1
]}

DONALD, AM ^{[1
]}

SASS, SL ^{[1
]}

机构：

[1] CORNELL UNIV,ITHACA,NY 14853

来源：

JOURNAL OF METALS | 1979年 / 31卷 / 08期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TF [冶金工业];

学科分类号：

0806 ;

摘要：

引用

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页码：F30 / F30

页数：1

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