2-DIMENSIONAL PARTICLE MODELS IN SEMICONDUCTOR-DEVICE ANALYSIS

被引：66

作者：

HOCKNEY, RW

WARRINER, RA

REISER, M

机构：

[1] UNIV READING,COMP SCI DEPT,READING RG6 2AF,ENGLAND

[2] IBM ZURICH,RES LAB,SAUMER STR 4,8803 RUSCHLIKON,SWITZERLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1049/el:19740386

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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