FIELD-EMISSION SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：0

作者：

AIHARA, R ^{[1
]}

SAITO, H ^{[1
]}

KOHINATA, H ^{[1
]}

OGURA, K ^{[1
]}

OTSUGI, H ^{[1
]}

机构：

[1] JEOL LTD,TOKYO,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1978年 / 27卷 / 04期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页数：1

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