SCANNING ELECTRON-MICROSCOPIC OBSERVATIONS OF TRANSITIONAL EPITHELIUM

被引：0

作者：

OGAWA, K ^{[1
]}

机构：

[1] FUKUOKA UNIV,SCH MED,DEPT ANAT,FUKUOKA,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1977年 / 26卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：275 / 276

页数：2

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