LOCAL IN-DEPTH ANALYSIS OF CERAMIC MATERIALS BY NEUTRAL BEAM SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY

被引：33

作者：

BORCHARDT, G ^{[1
]}

SCHERRER, H ^{[1
]}

WEBER, S ^{[1
]}

SCHERRER, S ^{[1
]}

机构：

[1] ECOLE NATL SUPER MET & IND MINES,PHYS SOLIDES LAB,F-54042 NANCY,FRANCE

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES | 1980年 / 34卷 / 3-4期

关键词：

D O I：

10.1016/0020-7381(80)85049-2

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学]; O56 [分子物理学、原子物理学];

学科分类号：

070203 ; 070304 ; 081704 ; 1406 ;

摘要：

引用

页码：361 / 373

页数：13

共 24 条

ANDERSEN, CA ;

HINTHORNE, JR .

ANDERSEN, CA ;

RODEN, HJ ;

ROBINSON, CF .

[3]

Andersen CA., 1970, INT J MASS SPECTROM, V3, P413, DOI [10.1016/0020-7381(70)80001-8, DOI 10.1016/0020-7381(70)80001-8]

[4]

ANDERSEN CA, 1969, INT J MASS SPECTROM, V2, P61

[5]

BACH H, 1972, INT J MASS SPECTROM, V9, P247

[6]

BENNINGHOVEN A, 1973, APPL PHYS, V1, P3

[7]

BERNHEIM M, 1977, J PHYS LETT, V38, P32

[8]

BLANCHARD B, 1975, ANALUSIS, V3, P312

[9]

BLANCHARD B, EAPC222 CEA DIV CHIM

[10]

BORCHARDT G, 1977, THESIS TU CLAUSTHAL