DETERMINATION OF ELECTRON-OPTICAL PARAMETERS IN HREM BY IMAGE MATCHING

被引：4

作者：

WILSON, AR

机构：

来源：

MICRON | 1980年 / 11卷 / 3-4期

关键词：

D O I：

10.1016/0047-7206(80)90015-1

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：281 / 283

页数：3

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共 4 条

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