IMPROVED PHASE SHIFT TECHNIQUE FOR MEASURING SHORT CARRIER LIFETIME IN SEMICONDUCTORS

被引：4
作者：
HWANG, CJ
机构：
来源：
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1971年 / 42卷 / 07期
关键词：
D O I：
10.1063/1.1685296
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
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页码：1084 / &
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