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GAAS SCHOTTKY-BARRIER AVALANCHE DIODES
被引:15
作者
:
KIM, CK
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KIM, CK
ARMSTRON.LD
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ARMSTRON.LD
机构
:
来源
:
SOLID-STATE ELECTRONICS
|
1970年
/ 13卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0038-1101(70)90007-9
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:53 / &
相关论文
共 7 条
[1]
HAMILTON V, 1968, DAAB0768C0287 CONTR
[2]
IRVIN JC, 1966, IEEE T ELECTRON DEVI, VED13, P208
[3]
KIM CK, 1969, IEEE T ELECTRON DEVI, VED16
[4]
KIM CK, 1969, APPL PHYS LETT
[5]
AVALANCHE BREAKDOWN VOLTAGES OF ABRUPT AND LINEARLY GRADED P-N JUNCTIONS IN GE SI GAAS AND GAP - (DOPANT EFFECTS IMPURITY EFFECTS T)
SZE, SM
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SZE, SM
GIBBONS, G
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GIBBONS, G
[J].
APPLIED PHYSICS LETTERS,
1966,
8
(05)
: 111
-
&
[6]
METAL-SEMICONDUCTOR IMPATT DIODE
SZE, SM
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机构:
Bell Telephone Laboratories, Inc., Murray Hill
SZE, SM
LEPSELTER, MP
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Bell Telephone Laboratories, Inc., Murray Hill
LEPSELTER, MP
MACDONALD, RW
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机构:
Bell Telephone Laboratories, Inc., Murray Hill
MACDONALD, RW
[J].
SOLID-STATE ELECTRONICS,
1969,
12
(02)
: 107
-
+
[7]
WHEELER AJ, 1967, PRIVATE COMMUNICATIO
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共 7 条
[1]
HAMILTON V, 1968, DAAB0768C0287 CONTR
[2]
IRVIN JC, 1966, IEEE T ELECTRON DEVI, VED13, P208
[3]
KIM CK, 1969, IEEE T ELECTRON DEVI, VED16
[4]
KIM CK, 1969, APPL PHYS LETT
[5]
AVALANCHE BREAKDOWN VOLTAGES OF ABRUPT AND LINEARLY GRADED P-N JUNCTIONS IN GE SI GAAS AND GAP - (DOPANT EFFECTS IMPURITY EFFECTS T)
SZE, SM
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SZE, SM
GIBBONS, G
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0
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GIBBONS, G
[J].
APPLIED PHYSICS LETTERS,
1966,
8
(05)
: 111
-
&
[6]
METAL-SEMICONDUCTOR IMPATT DIODE
SZE, SM
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LEPSELTER, MP
MACDONALD, RW
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机构:
Bell Telephone Laboratories, Inc., Murray Hill
MACDONALD, RW
[J].
SOLID-STATE ELECTRONICS,
1969,
12
(02)
: 107
-
+
[7]
WHEELER AJ, 1967, PRIVATE COMMUNICATIO
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