INFLUENCE OF MULTIPLE REFLECTIONS ON ACCURACY OF MICROWAVE-INTERFEROMETER MEASUREMENTS OF PLASMA ELECTRON DENSITY

被引:0
作者
MUSIL, J
ZACEK, F
机构
来源
CESKOSLOVENSKY CASOPIS PRO FYSIKU SEKCE A | 1968年 / 18卷 / 01期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
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共 8 条
[1]  
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