DETERMINATION OF SHALLOW CORE LEVEL SPECTRA IN SELECTED COMPOUND SEMICONDUCTORS

被引：16
作者：
DAVIS, GD [1 ]
VILJOEN, PE [1 ]
LAGALLY, MG [1 ]
机构：
[1] UNIV WISCONSIN,MAT SCI BRANCH,MADISON,WI 53706
来源：
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA | 1980年 / 20卷 / 04期
关键词：
D O I：
10.1016/0368-2048(80)85026-2
中图分类号：
O433 [光谱学];
学科分类号：
0703 ; 070302 ;
摘要：
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页码：305 / 318
页数：14
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共 42 条
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