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AN IC TEMPERATURE TRANSDUCER WITH AN INTRINSIC REFERENCE
被引:14
作者
:
MEIJER, GCM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MEIJER, GCM
机构
:
来源
:
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS
|
1980年
/ 15卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1109/JSSC.1980.1051403
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:370 / 373
页数:4
相关论文
共 3 条
[1]
MEASUREMENT OF THE TEMPERATURE-DEPENDENCE OF THE IC(VBE) CHARACTERISTICS OF INTEGRATED BIPOLAR-TRANSISTORS
MEIJER, GCM
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h-index:
0
MEIJER, GCM
VINGERLING, K
论文数:
0
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0
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VINGERLING, K
[J].
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,
1980,
15
(02)
: 237
-
240
[2]
MEIJER GCM, 1978, SEP EUR SOL STAT CIR, P142
[3]
2-TERMINAL IC TEMPERATURE TRANSDUCER
TIMKO, MP
论文数:
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引用数:
0
h-index:
0
机构:
ANALOG DEVICES,DIV SEMICOND,WILMINGTON,MA 01887
ANALOG DEVICES,DIV SEMICOND,WILMINGTON,MA 01887
TIMKO, MP
[J].
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,
1976,
11
(06)
: 784
-
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共 3 条
[1]
MEASUREMENT OF THE TEMPERATURE-DEPENDENCE OF THE IC(VBE) CHARACTERISTICS OF INTEGRATED BIPOLAR-TRANSISTORS
MEIJER, GCM
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0
MEIJER, GCM
VINGERLING, K
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VINGERLING, K
[J].
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,
1980,
15
(02)
: 237
-
240
[2]
MEIJER GCM, 1978, SEP EUR SOL STAT CIR, P142
[3]
2-TERMINAL IC TEMPERATURE TRANSDUCER
TIMKO, MP
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0
机构:
ANALOG DEVICES,DIV SEMICOND,WILMINGTON,MA 01887
ANALOG DEVICES,DIV SEMICOND,WILMINGTON,MA 01887
TIMKO, MP
[J].
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,
1976,
11
(06)
: 784
-
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