ELECTRIC PROBE MEASUREMENTS ON MICROSTRIP

被引:32
作者
DAHELE, JS [1 ]
CULLEN, AL [1 ]
机构
[1] UNIV LONDON UNIV COLL,DEPT ELECTR & ELECT ENGN,LONDON WC1E 7JE,ENGLAND
关键词
D O I
10.1109/TMTT.1980.1130162
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:752 / 755
页数:4
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