MEASUREMENT OF LOW- AND HIGH-VALUE RESISTANCE STANDARDS AT NPL

被引：1

作者：

WILKINS, FJ

SWAN, MJ

机构：

来源：

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTION OF ELECTRICAL ENGINEERS-LONDON | 1969年 / 116卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1049/piee.1969.0057

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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