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SILICON SEMICONDUCTOR-DETECTORS IN PROBLEMS OF RADIOMETRIC INSPECTION
被引：0
作者：
VALEVICH, MI
机构：
来源：
SOVIET JOURNAL OF NONDESTRUCTIVE TESTING-USSR
|
1979年
/
15卷
/
05期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：452 / 454
页数：3
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