ACCURATE MICROCRYSTALLOGRAPHY AT HIGH SPATIAL-RESOLUTION USING ELECTRON BACKSCATTERING PATTERNS IN A FIELD-EMISSION GUN SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：62
作者：
HARLAND, CJ
AKHTER, P
VENABLES, JA
机构：
来源：
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1981年 / 14卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1088/0022-3735/14/2/011
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
引用
收藏
页码：175 / 182
页数：8
相关论文
共 20 条
  • [1] AKHTER P, 1979, EMAG 79, P383
  • [2] INTERPRETATION OF THE SPATIAL-RESOLUTION OF THE SCANNING AUGER-ELECTRON MICROSCOPE - THEORY-EXPERIMENT COMPARISON
    ELGOMATI, MM
    JANSSEN, AP
    PRUTTON, M
    VENABLES, JA
    [J]. SURFACE SCIENCE, 1979, 85 (02) : 309 - 316
  • [3] WIDE-BAND DETECTOR FOR MICRO-MICROAMPERE LOW-ENERGY ELECTRON CURRENTS
    EVERHART, TE
    THORNLEY, RFM
    [J]. JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1960, 37 (07): : 246 - 248
  • [4] HARLAND CJ, 1978, 9TH P INT C EL MICR, V1, P564
  • [5] KLEIN JH, 1976, THESIS U SUSSEX
  • [6] KOHL HJ, 1978, 9TH P INT C EL MICR, V1, P198
  • [7] OATLEY CW, 1972, SCANNING ELECTRON 1, P107
  • [8] Reimer L., 1978, Scanning Electron Microscopy, 1978, P705
  • [9] REIMER L, 1977, EMAG 77, P259
  • [10] Rose A., 1948, ADV ELECTRON EL P, P131, DOI DOI 10.1016/S0065-2539(08)61102-6
12