APPARATUS FOR TESTING AMORPHOUS-SEMICONDUCTOR SWITCHES

被引:0
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作者
SEMENOV, VA
ORESHKIN, PT
SOKOLOV, BM
机构
关键词
D O I
10.1007/BF00816702
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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页码:109 / 110
页数:2
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