K-OUT-OF-N 3-STATE DEVICES SYSTEM WITH COMMON-CAUSE FAILURES

被引：12
作者：
DHILLON, BS
机构：
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1978年 / 18卷 / 05期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(78)90868-5
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：447 / 448
页数：2
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共 4 条
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