PHASE DETERMINATION AND COMPENSATION OF LENS ABERRATIONS IN ELECTRON-MICROSCOPY - CLARIFICATION OF A PROBLEM

被引：0

作者：

FRANK, J ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CAMBRIDGE,CAVENDISH LAB,FREE SCH LANE,CAMBRIDGE CB2 3RQ,ENGLAND

来源：

OPTIK | 1974年 / 41卷 / 01期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：90 / 91

页数：2

共 7 条

[1]

FRANK J, 1973, OPTIK, V38, P582

[2]

FRANK J, 1970, BERICH BUNSEN GESELL, V74, P1105

[3]

GERCHBERG RW, 1971, OPTIK, V34, P275

[4]

Misell D. L., 1973, Journal of Physics D (Applied Physics), V6, pL6, DOI 10.1088/0022-3727/6/1/102

MISELL, DL ;

BURGE, RE ;

GREENAWA.AH .

[6] ELEKTRONENMIKROSKOPISCHE UNTERSUCHUNGEN AN DUNNEN KOHLEFOLIEN [J].

THON, F .

ZEITSCHRIFT FUR NATURFORSCHUNG PART A-ASTROPHYSIK PHYSIK UND PHYSIKALISCHE CHEMIE, 1965, A 20 (01) :154-&

[7]

WAHL H, 1974, OPTIK, V39, P585