JUNCTION-TEMPERATURE MEASUREMENT OF IMPATT DIODES

被引：3
作者：
KENYON, ND
DALESSIO, FJ
机构：
来源：
ELECTRONICS LETTERS | 1972年 / 8卷 / 05期
关键词：
D O I：
10.1049/el:19720085
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
引用
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页码：118 / &
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共 2 条
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