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PREDICTIVE SUBSET TESTING - OPTIMIZING IC PARAMETRIC PERFORMANCE TESTING FOR QUALITY, COST, AND YIELD
被引：56
作者：
BROCKMAN, JB
DIRECTOR, SW
机构：
关键词：
D O I：
10.1109/66.29679
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
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页码：104 / 113
页数：10
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