OPTICAL CHARACTERIZATION AND BAND OFFSETS IN ZNSE-ZNSXSE1-X STRAINED-LAYER SUPERLATTICES

被引:188
作者
SHAHZAD, K [1 ]
OLEGO, DJ [1 ]
VAN DE WALLE, CG [1 ]
机构
[1] IBM CORP, THOMAS J WATSON RES CTR, DIV RES, YORKTOWN HTS, NY 10598 USA
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.38.1417
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:1417 / 1426
页数:10
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