TOTAL DOSE TESTING OF SEVERAL TYPES OF MOS MICROPROCESSORS

被引：3

作者：

KING, EE

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1978年 / 25卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1978.4329588

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1649 / 1651

页数：3

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共 1 条

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KING EE, 1975, IEEE T NUCL SCI, V22, P2120