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DETERMINATION OF OBJECT THICKNESS IN ELECTRON MICROSCOPY
被引：0
作者：
KANAYA, K
机构：
来源：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
|
1971年
/
20卷
/
01期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
引用
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页码：73 / &
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