IMPROVED TECHNIQUE FOR PEAK INTEGRATION FOR CRYSTALLOGRAPHIC DATA COLLECTED WITH POSITION-SENSITIVE DETECTORS - A DYNAMIC MASK PROCEDURE

被引：48

作者：

SJOLIN, L ^{[1
]}

WLODAWER, A ^{[1
]}

机构：

[1] NIAMDD,MOLEC BIOL LAB,BETHESDA,MD 20205

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A | 1981年 / 37卷 / JUL期

关键词：

D O I：

10.1107/S0567739481001332

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

页码：594 / 604

页数：11

共 30 条

[1]

ABRAHAMSSON S, 1980, J APPL CRYSTALLOGR, V13, P318

[2]

ABRAHAMSSON S, J APPL CRYST

[3]

ABRAHAMSSON S, 1969, J SCI INSTRUM, V43, P931

ALEXANDER, LE ;

SMITH, GS .

[5]

Arndt U. W., 1977, ROTATION METHOD CRYS

[6]

BLESSING RH, 1974, J APPL CRYSTALLOGR, V7, P488

[7]

CORNICK G, 1980, COMMUNICATION

[8] PROFILE ANALYSIS IN SINGLE CRYSTAL DIFFRACTOMETRY [J].

DIAMOND, R .

FORD, GC .

GRANT, DF ;

GABE, EJ .