HIGH-RESOLUTION MAGNETIC IMAGING OF DOMAINS IN TBFE BY FORCE MICROSCOPY

被引：149

作者：

MARTIN, Y ^{[1
]}

RUGAR, D ^{[1
]}

WICKRAMASINGHE, HK ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP,ALMADEN RES CTR,SAN JOSE,CA 95120

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.99482

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：244 / 246

页数：3

共 6 条

[1] ATOMIC FORCE MICROSCOPE [J].

BINNIG, G ;

QUATE, CF ;

GERBER, C .

[2]

CELLOTA RJ, 1986, SCIENCE, V234, P333

[3] MAGNETIC IMAGING BY FORCE MICROSCOPY WITH 1000-A RESOLUTION [J].

MARTIN, Y ;

WICKRAMASINGHE, HK .

MARTIN, Y ;

WILLIAMS, CC ;

WICKRAMASINGHE, HK .

[5]

REIMER L, 1984, SPRINGER SERIES OPTI, V36

SUITS, JC ;

GEISS, RH ;

LIN, CJ ;

RUGAR, D ;

BELL, AE .