Precision-measurements in the X-ray spectra.

被引:17
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作者
Siegbahn, M
机构
来源
PHILOSOPHICAL MAGAZINE | 1919年 / 37卷 / 222期
关键词
D O I
10.1080/14786440608635923
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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页数:12
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