NEW CLASS OF BOUNDS ON BAYES RISK IN MULTIHYPOTHESIS PATTERN-RECOGNITION

被引：46

作者：

DEVIJVER, PA ^{[1
]}

机构：

[1] MANUFACTURE BELGE LAMPES & MAT ELECTR SA,RES LAB,BRUSSELS,BELGIUM

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-C.1974.223779

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：70 / 80

页数：11

共 15 条

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