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BACK-SCATTER ELECTRON IMAGES AT 200KV OF SUBSURFACE STRUCTURES IN COMPOSITE-MATERIALS
被引:0
|
作者
:
FOURIE, JT
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0
FOURIE, JT
机构
:
来源
:
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD
|
1989年
/ 156卷
关键词
:
D O I
:
10.1111/j.1365-2818.1989.tb02931.x
中图分类号
:
TH742 [显微镜];
学科分类号
:
摘要
:
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页码:293 / 301
页数:9
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共 1 条
[1]
A SURVEY OF SURFACE BACK-SCATTER FACTORS FOR RADIATIONS GENERATED AT 200 TO 250 KV - (HALF-VALUE LAYERS FROM 1.0 TO 3.5 MM OF COPPER)
GREENING, JR
论文数:
0
引用数:
0
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0
GREENING, JR
BRITISH JOURNAL OF RADIOLOGY,
1954,
27
(321):
: 532
-
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