BACK-SCATTER ELECTRON IMAGES AT 200KV OF SUBSURFACE STRUCTURES IN COMPOSITE-MATERIALS

被引:0
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作者
FOURIE, JT
机构
来源
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1989.tb02931.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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页码:293 / 301
页数:9
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