IMPROVEMENT OF ABSOLUTE ACCURACY FOR A MULTIPLE BOUNCE REFLECTOMETER THROUGH A DETAILED EFFORT TO REDUCE SYSTEMATIC-ERRORS

被引：12

作者：

WETZEL, MG ^{[1
]}

SAITO, TT ^{[1
]}

PATTERSON, SR ^{[1
]}

机构：

[1] USAF, KIRTLAND AFB, NM 87117 USA

来源：

APPLIED OPTICS | 1973年 / 12卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.12.001558

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页码：1558 / 1563

页数：6

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共 4 条

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