THERMALLY ACTIVATED POINT DEFECT MIGRATION IN COPPER

被引:99
作者
MEECHAN, CJ
SOSIN, A
BRINKMAN, JA
机构
来源
PHYSICAL REVIEW | 1960年 / 120卷 / 02期
关键词
D O I
10.1103/PhysRev.120.411
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
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页数:9
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