CONTACTLESS METHOD OF MEASURING THE HALL-MOBILITY OF FREE CHARGE-CARRIERS IN SEMICONDUCTORS

被引：0

作者：

SIDORIN, VV

SIDORIN, YV

机构：

来源：

INDUSTRIAL LABORATORY | 1990年 / 56卷 / 10期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

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页码：1184 / 1188

页数：5

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